Команда ориентирована на производителей силовых модулей на основе технологий Si, SiC и GaN, где надежность переходов и герметизации имеет решающее значение для конечной производительности устройства.
Неразрушающий контроль для сложных процессов сборки.
Растущее внедрение технологий соединения серебра (Ag Sintering) и меди (Cu Sintering) обуславливает необходимость в инструментах контроля, способных проверять качество внутренних соединений без разрушения компонента. В этом контексте X-SAM M51 использует высокочастотный ультразвук для получения внутренних изображений устройства и обнаружения дефектов, таких как расслоения, пустоты, трещины, пористость или проблемы с адгезией между материалами.
Благодаря своим возможностям неразрушающего анализа, система позволяет проверять производственные процессы, оптимизировать параметры спекания и проводить периодические проверки качества как прототипов, так и мелкосерийного производства.
Разработанная для лабораторий и научно-исследовательских сред,
система X-SAM M51 имеет настольную конфигурацию, что облегчает ее интеграцию в исследовательские лаборатории, технологические центры и отделы технологического проектирования. Система включает в себя защищенный закрытый корпус, выделенную рабочую станцию, монитор с разрешением 2K и программный интерфейс, разработанный компанией AMX, для упрощения получения и анализа акустических изображений.
Ключевые интегрированные функции включают:
высокоточную акустическую микроскопию;
анализ дефектов с использованием картирования дефектов;
функцию сквозного сканирования для расширенного внутреннего контроля;
настройку и сохранение параметров тестирования;
дополнительные инструменты удаленной поддержки;
интуитивно понятное управление для научно-исследовательских работ и контроля качества;
проверку спеченных соединений и усовершенствованных герметизирующих покрытий.
Одним из основных применений X-SAM M51 является контроль силовых модулей, подвергнутых процессам спекания — технологии, все чаще используемой в устройствах из карбида кремния (SiC) и нитрида галлия (GaN) благодаря их высокой теплопроводности и способности работать при высоких температурах.
Система позволяет проверять качество интерфейса после спекания, многослойной сборки и передовых процессов склеивания, используемых в:
силовых модулях для электромобилей;
промышленных преобразователях;
системах хранения энергии;
электронике для возобновляемой энергетики;
железнодорожных и аэрокосмических приложениях;
центрах обработки данных и высокопроизводительной вычислительной инфраструктуре.
Автоматизация и отслеживаемость в электронном производстве:
X-SAM M51 является частью платформы акустического контроля, разработанной компанией AMX Automatrix для отрасли силовой электроники. Компания также предлагает полностью автоматизированные версии для производственных линий, обеспечивающие полные рабочие процессы от разработки прототипов до серийного производства с интегрированной отслеживаемостью и контролем качества.
По данным AMX, сочетание технологий спекания и акустической микроскопии обеспечивает эффективную методологию повышения надежности силовых модулей следующего поколения и снижения затрат, связанных с преждевременными отказами в сложных условиях эксплуатации.
Основные характеристики
: Технология: Сканирующая акустическая микроскопия (САМ).
Тип оборудования: Настольный акустический микроскоп.
Применение: Неразрушающий контроль электронных модулей.
Условия эксплуатации: Лаборатории, научно-исследовательские центры и чистые помещения.
Функции анализа: Картирование дефектов и сквозное сканирование.
Интерфейс AMX для сбора и анализа данных.
Контроль процессов спекания и других технологий соединения.
Совместимость с программным обеспечением для контроля качества и валидации процессов в силовой электронике.
