Новая конфигурация YRi-V HS разработана для производителей электроники во всех секторах рынка, от бытовой электроники до промышленного и автомобильного оборудования, стремящихся к более высокому разрешению контроля при высокой производительности производства. Поскольку разработчики схем все чаще используют компоненты с миниатюрными элементами для повышения функциональности и соответствия жестким ограничениям по общему форм-фактору, производителям необходимы системы контроля с более высоким разрешением для обеспечения надлежащего контроля качества. Поддержание высокой производительности также имеет решающее значение для достижения целевых показателей производительности.
Система YRi-V HS теперь сочетает в себе высокое разрешение и высокую производительность для работы с такими компонентами, как новейшие, самые маленькие SMD-чипы и корпуса интегральных схем с малым шагом ввода/вывода. Благодаря квадратному расширенному полю зрения (FOV) и 25-мегапиксельной камере, YRi-V HS может получать изображения всей сборки или выбранной области до 1,6 раз быстрее, чем стандартные системы высокого разрешения.
Кроме того, новая система YRi-V HS включает в себя усовершенствованную лазерную систему для точного измерения высоты и проверки соосности компонентов, таких как светодиоды в осветительных приборах. Лазерное профилирование преодолевает проблемы визуализации, возникающие при использовании прозрачных или непрозрачных линз светодиодов, обеспечивая эффективный контроль качества, что позволяет производителям использовать возможности светодиодного освещения на автомобильном, потребительском и промышленном рынках. Лазерное профилирование также позволяет точно визуализировать компоненты с сильно отражающими поверхностями, такие как корпуса микросхем на уровне пластин, что помогает увеличить производительность на заключительном этапе производства и минимизировать доработки.
