Серия AF013x Hyperlux обеспечивает высокоточные измерения на больших расстояниях и 3D-визуализацию быстро движущихся объектов благодаря запатентованной компанией ON Semiconductor новой архитектуре пикселей с глобальным затвором и интегрированной памяти. Оснащенные 1/3,2-дюймовым оптическим CMOS-сенсором с датчиками с задней подсветкой (BSI) для измерения глубины и получения изображений, эти сенсоры позволяют использовать встроенные контроллеры двух лазеров с частотой модуляции до 200 МГц и контролем порогового значения, безопасного для глаз при работе с лазером.
Датчик изображения AF0130 iToF оснащен микросхемой обработки глубины, расположенной под пиксельной областью, которая с высокой скоростью вычисляет карты глубины, достоверности и интенсивности на основе лазерно-модулированных экспозиций. Датчик AF0130 Hyperlux может захватывать всю сцену и одновременно обрабатывать измерения глубины в реальном времени. Кроме того, семейство датчиков AF013x одновременно генерирует монохромные изображения и информацию о глубине, обеспечивая полное представление об окружающей среде без необходимости использования отдельных датчиков для визуальных данных и данных о глубине. AF0131 предназначен для разработок с вычислением глубины вне кристалла. Оценочные платы AF0130CSSM30SMKAH3-GEVK и AGBENECS-GEVK от onsemi, доступные на mouser.com, поддерживают разработку приложений на основе датчиков AF013x.
