Он обладает разрешением 6,5 разрядов и максимальной скоростью сбора данных 100 000 точек/с. Выходные параметры составляют до ±210 В постоянного тока, ±3,03 А постоянного тока и ±10,5 А в импульсном режиме, а разрешение измерения/программирования — 10 фА/100 нВ.
Интегрированные функции:
Поддержка четырехквадрантного режима работы, обеспечивающая одновременную работу источника и измерительного контура в замкнутом цикле для комплексного тестирования тестируемого устройства (DUT).
Высокоточный режим моделирования импульсов с импульсами тока до ±10,5 А и минимальной шириной 50 мкс, идеально подходящий для характеризации переходных процессов в мощных полупроводниках, таких как GaN и SiC.
Линейные, логарифмические и импульсные развертки облегчают быстрое извлечение вольт-амперных характеристик и анализ поведения диодов, транзисторов и других полупроводниковых компонентов.
Пользовательские последовательности с минимальным временным разрешением 10 мкс для сложных профилей воздействия или многосегментного тестирования.
Визуализация и анализ данных с помощью графического, скользящего и измерительного режимов, обеспечивающие многомерное представление результатов.
Эффективное программирование и дистанционное управление, совместимое с командами SCPI, USB и LAN-соединениями, а также управление через встроенный веб-интерфейс или связь TCP/IP для интеграции в автоматизированные системы тестирования.
Серия SMM3000X разработана для удовлетворения самых высоких требований к тестированию полупроводников следующего поколения, передовых оптоэлектронных устройств, новых материалов, энергетических батарей и интегральных схем высокой плотности.
