AF013x Hyperlux 系列采用安森美半导体 (ON Semiconductor) 专利的新型全局快门像素架构和集成存储技术,可对快速移动物体进行高精度远距离测量和 3D 成像。该系列传感器采用 1/3.2 英寸光学尺寸 CMOS 传感器,配备背照式 (BSI) 传感器,用于深度测量和成像。此外,该系列传感器还支持片上双激光控制器,调制频率高达 200 MHz,并具备激光人眼安全阈值监控功能。.
AF0130 iToF 图像传感器在像素区域下方堆叠了一个深度处理 ASIC,可利用激光调制曝光高速计算深度、置信度和强度图。AF0130 Hyperlux 传感器能够捕捉整个场景并同时实时处理深度测量。此外,AF013x 系列传感器可同时生成单色图像和深度信息,无需单独的视觉和深度传感器即可提供完整的环境视图。AF0131 专为采用片外深度计算的设计而设计。安森美半导体 (onsemi) 提供的 AF0130CSSM30SMKAH3-GEVK 和 AGBENECS-GEVK 评估板(可在 mouser.com 购买)支持基于 AF013x 系列传感器的应用开发。.
