分辨率为 6.5 位，最大采集速率为 100,000 点/秒。输出能力高达 ±210 V DC、±3.03 A DC 和 ±10.5 A（脉冲模式），测量/编程分辨率为 10 fA/100 nV。.
集成功能：
支持四象限操作，可同时进行闭环源和测量操作，从而实现对被测器件 (DUT) 的全面测试。
高精度脉冲仿真模式，电流脉冲高达 ±10.5 A，最小脉冲宽度为 50 µs，非常适合表征 GaN 和 SiC 等高功率半导体中的瞬态特性。
线性、对数和脉冲扫描功能可快速提取二极管、晶体管和其他半导体器件的 I-V 曲线并进行行为分析。
用户可自定义序列，最小时间分辨率为 10 µs，适用于复杂的激励曲线或多段测试。
通过图形、滚动和测量视图模式进行数据可视化和分析，提供结果的多维视角。
高效的编程和远程控制功能，兼容 SCPI 命令、USB 和 LAN 连接，也可通过集成的 Web 界面或 TCP/IP 通信进行控制，以便集成到自动化测试系统中。
SMM3000X 系列旨在满足下一代半导体、先进光电器件、新兴材料、新能源电池和高密度集成电路的苛刻测试需求。.
