Microtest VIP Extended 是一款可配置的自动化测试设备 (ATE)，适用于硅 (Si)、碳化硅 (SiC) 和氮化镓 (GaN) 功率产品。它旨在测试高低压控制器、IGBT、功率 MOSFET 和功率集成电路等器件。.
主要特点：
并行测试能力高达 48 个测试点（1.7 kV/20 A）和 16 个测试点（4 kV/20 A）。
晶圆和条形测试效率高，可同时测量 48 个测试点的栅极电阻 (Rg)、栅极电容 (Cg) 和未锁定电感开关 (UiS)。
中功率直流电流源，最多可支持 64 个资源（±110 V，±4 A）。
可编程灌电流/电流源能力高达 ±250 A。
最多 320 个数字通道，输出电压范围为 -1.25 V 至 6.75 V，每个通道配备 64 MB 模式存储器和一个 PPMU。
时间测量单元、数字浮动控制器、LCR 表、PPMU 和精度高达 20 pA 的皮安表，所有组件均可配置多达 64 个单元。
可配置电感和电阻负载。
可选高压（HV）版本，最高可达1700V。
尺寸：
高度：350 毫米
宽度：600 毫米
深度：640 毫米
MICROTEST
VIP Extended 为电源产品测试提供了一种高效且经济的解决方案，可优化性能并降低运营成本。
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