内阻反映了电池在整个使用寿命期间的质量和性能。内阻越高，电池效率越低，越容易过早失效。高内阻会在运行过程中产生过多的热量，如果电池发生热失控，则可能造成安全隐患。使用前测量内阻是识别可能存在失效风险的电池单元的有效方法。有多种方法可以表征内阻，每种方法都表征了电池性能的不同方面。.
其中一种方法是电化学阻抗谱（EIS）。在该测试中，向电池施加一个宽频带的交流信号，并测量电池的响应。虽然这项测试可能比较耗时，但它能最全面地反映电池内部的阻抗特性。.
最常用的方法是交流内阻 (ACIR)。由于它是一种交流技术，因此可以表征阻抗，尽管通常只测量实部，即电阻。ACIR 是电化学阻抗谱 (EIS) 的一个子集，其测量在单一频率下进行，通常为 1 kHz。这可以表征小信号特性，是电池质量的良好指标，并且比完整的 EIS 测试快得多。这种节省时间的特性使其成为生产环境中常用的测试方法，因为在生产环境中，每块电池都必须满足规格要求。.
最后一种方法是直流内阻（DCIR），也称为脉冲特性分析。在这种方法中，仅测量电阻分量，因为假设电池由理想的开路电压和串联电阻表示，如图 2 所示：
带内部直流电阻的电池模型
图 2：直流绝缘电阻电池模型
将直流电施加到电池上，持续一段时间，测量电池电压的变化，并计算其电阻。图 3 显示了说明此操作的图表。.
电池内阻的直流电压和电流曲线图
图 3：DCIR 测量程序
直流电流冲击测试 (DCIR) 方法中使用的电流通常远高于交流电流冲击测试 (ACIR) 方法，因此在实际应用场景中，直流电流冲击测试更贴近真实情况，因为电池经常会暴露于高瞬时电流下。电池的内阻是其输出大电流能力的最大限制因素，因此识别无法在高电流条件下工作的电池至关重要。理想情况下，您需要一台能够同时提供高电流脉冲并同步测量电压的仪器。例如，Keithley 2461 等源测量单元 (SMU) 可以精确地提供 10 A 的脉冲，并以 6.5 位分辨率测量产生的电压。这些 SMU 配备了测试脚本处理器 (TSP®)，用户可以使用 DCIR TSP 应用程序运行完整的直流电流冲击测试脉冲序列，并从前面板接收计算数据。.
在 Keithley 2461 图形触摸屏 SMU 上进行 DCIR 测试设置及结果
图 4：Keithley 2461 图形触摸屏 SMU 上的 DCIR 测试设置和结果
电池的内阻是衡量其质量和使用寿命内性能的关键指标。测量电池阻抗（或电阻）的方法有三种，每种方法提供的信息略有不同。了解这些方法有助于确保您获得所需且预期的信息。.
