东芝最新的SiC技术将栅极漏极电阻 x QGD (RDS(on) x QGD) 的FoM提高了80%以上,从而提高了功率转换拓扑的驱动和开关性能​​。.

此外,新型器件还集成了上一代产品中经过验证的肖特基势垒二极管(SBD)。集成的SBD通过克服内部寄生效应,维持器件稳定的导通电阻(RDS(on)),从而提高了SiC MOSFET的可靠性。.

此外,该产品具有-10V至25V的宽栅源电压范围,提高了在各种电路设计和应用条件下的灵活性。3.0V至5.0V的栅极阈值电压(VGS(th))范围确保了可预测的开关性能和最小的漂移,并简化了栅极驱动器的设计。.

第三代 SiC MOSFET 现已上市: TW015N120C、 TW030N120C、 TW045N120C、 TW060N120C 和 TW140N120C。这些器件的 RDS(on) 值从 15mΩ 到 140mΩ(典型值,VGS = 18V),漏极电流值从 20A 到 100A(直流,TC=25°C)。

所有器件均已全面投产,可向分销商订购,采用标准的 TO-247 电源封装。.