功率半导体器件,包括IGBT,因其在多种高压应用中的广泛应用而日益受到认可。这些器件有望在保持低损耗的同时,实现高效率和高可靠性。ROHM在其现有高电流IGBT和低饱和电压、高开关速度IGBT产品系列的基础上,推出了第三代高效IGBT。新器件采用更薄的晶圆结构、场衰减技术和专有的沟槽栅结构,可提供更优异的性能,并满足日益增长的高频开关需求。.

ROHM 的第三代 650V IGBT 采用先进的场衰减结构,在漂移区实现了更低的载流子浓度梯度,从而改善了载流子分布。这使得饱和电压得以降低,开关速度得以提升,与传统方案相比,在饱和电压和截止损耗之间实现了优异的平衡。.

ROHM 还采用了一种精密的沟槽栅极结构,可降低栅极负载和电容。优化的掺杂和单元结构,以及比第二代产品薄 15% 的晶圆,显著降低了器件的整体损耗。导通阶段较低的载流子浓度可降低截止损耗。此外,即使在较低的外部栅极电阻下,新型器件也能实现平滑的开关特性。测量结果表明,即使在更高的开关速度下,噪声水平仍然很低。与第二代产品相比,小型化和特性改进使饱和电压降低了 6%,截止开关损耗降低了 20%,从而提高了系统的整体性能。.

第三代 650V IGBT 产品系列,包括 RGTV 系列的 30/50/80A 型号和 RGW 系列的 30/40/50A 型号,提供两种封装(TO-247N 和 TO-3PFM)和两个优化系列。RGTV 系列专为需要高级短路保护的应用而设计,而 RGW 系列则特别适用于转换器,具有低栅极负载和电容以及极低的开关损耗。两个系列均集成了一个快速平滑的恢复二极管,以实现最佳效率。.

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