本次网络研讨会将介绍将 AOI 检测系统和 AXI（X 射线）检测系统结合使用来检测电子组件中 IPC 组件焊缝的优势。.

本次网络研讨会预计时长60分钟，包含问答环节。研讨会将阐述为何应使用X射线检测来检查电子组件中的所有焊点，而不仅仅是特定点。研讨会还将通过大量示例图像来说明错误检测的可能性和局限性。
主讲人：Daniel Robertson，GOEPEL electronics Ltd.；
主持人：Matthias Mueller，GOEPEL electronic GmbH

本次网络研讨会将在线进行，语言为英语。.

本次网络研讨会的目标受众包括电子装配线的生产和质量经理、生产技术人员和开发人员，以及电子制造公司的经理和主管。.

本次网络研讨会完全免费，名额有限。.

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