在第二部分“材料的电磁特性表征”中,我们将以第一部分阐述的基础知识为基础,探讨各种能够获取被测材料从直流到太赫兹频段的复介电常数和磁导率测量结果的技术。我们
将对部分介绍的测量技术进行实际演示。
本次网络研讨会将于4月29日上午9:00至10:55举行。.
本次演讲将由 Keysight Technologies 数字应用与解决方案工程师 Benjamín García 和 Keysight Technologies 应用工程师 Adolfo del Solar 主讲。.
是德科技将举办此次分为两部分的研讨会。第一部分“复阻抗测量”将探讨材料复阻抗的特性,涵盖测量基础知识以及各种可用于获取被测材料关键信息的方法。.
在第二部分“材料的电磁特性表征”中,我们将以第一部分阐述的基础知识为基础,探讨各种能够获取被测材料从直流到太赫兹频段的复介电常数和磁导率测量结果的技术。我们
将对部分介绍的测量技术进行实际演示。
本次网络研讨会将于4月29日上午9:00至10:55举行。.
本次演讲将由 Keysight Technologies 数字应用与解决方案工程师 Benjamín García 和 Keysight Technologies 应用工程师 Adolfo del Solar 主讲。.
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