As novas funcionalidades estão orientadas para sistemas de RF que exigem medições multiportas, configurações MIMO, múltiplos canais sincronizados e análise de sinais modulados na plataforma PXI. O NI PXIe-5633 expande as capacidades de análise de redes vetoriais da plataforma para quatro portas.
Esta configuração permite a caracterização de dispositivos com múltiplos caminhos de RF e medições de parâmetros S multiportas. Um VNA de quatro portas possibilita a análise direta de um maior número de relações entrada-saída do que um instrumento de duas portas, o que é particularmente relevante para componentes e subsistemas com múltiplos caminhos de sinal.
O comunicado de imprensa, no entanto, não fornece especificações para o PXIe-5633, tais como gama de frequências, gama dinâmica, potência de saída, ruído de traço, velocidade de medição ou estabilidade, pelo que não é possível avaliar quantitativamente o seu desempenho.
O segundo novo produto é o NI PXIe-5860, um transcetor de sinal vetorial para o qual a NI incorporou melhorias de software relacionadas com a sincronização. Estas características são orientadas para aplicações MIMO, multicanal e sensíveis ao tempo, onde múltiplos sinais de RF devem ser gerados, adquiridos ou analisados de forma coordenada.
O objetivo é utilizar múltiplos canais dentro de uma arquitetura de teste sincronizada para caracterizar sistemas sem fios baseados em múltiplas antenas e caminhos de RF. As informações fornecidas não quantificam a precisão da sincronização nem especificam os mecanismos utilizados para sincronizar múltiplos transceptores PXIe-5860.
Uma das principais características da plataforma é a capacidade de combinar a caracterização dos parâmetros S com medições em sinais de RF modulados.
De acordo com a NI, ambos os tipos de medição podem ser realizados utilizando uma única ligação de RF dentro do sistema de teste.
A integração do VNA e do VST numa arquitetura PXI controlada por software permite a consolidação de diferentes tarefas de medição num único sistema. Esta abordagem pode reduzir a necessidade de definições separadas para cada classe de teste, embora o comunicado de imprensa não forneça dados sobre a redução do número de instrumentos, do tempo de teste ou do custo do sistema.
Tanto o PXIe-5633 como o PXIe-5860 estão integrados na plataforma modular PXI, permitindo a combinação de diferentes instrumentos na mesma arquitetura de teste.
A NI concentra esta configuração em fluxos de trabalho automatizados que podem ser utilizados desde as etapas de validação do projeto até aos ambientes de produção.
A modularidade permite ainda que os sistemas sejam configurados com números variáveis de canais, dependendo dos requisitos de cada aplicação.
No entanto, termos como "escalável" ou "adaptável ao crescimento futuro" presentes no comunicado de imprensa descrevem as características gerais da arquitetura e não constituem, por si só, métricas de desempenho para os novos instrumentos.
A empresa está a direcionar estas ferramentas para aplicações de validação de semicondutores, investigação em comunicações sem fios e sistemas aeroespaciais e de defesa, bem como outros equipamentos de radiofrequência baseados em arquiteturas multiantena e multicanal.
