Combinados com um conjunto abrangente de ferramentas de análise, os modelos SDS5000X HD e SDS5000L foram concebidos para satisfazer as exigências em constante evolução das aplicações atuais em eletrónica de potência, sistemas embebidos e testes automatizados.
Os modelos SDS5000X HD apresentam uma interface touchscreen grande e intuitiva, ideal para trabalho em bancada e depuração interativa, enquanto as variantes SDS5000L para montagem em rack são otimizadas para integração em sistemas de teste automatizados, oferecendo controlo remoto completo e um design compacto sem a necessidade de um monitor integrado.
As séries SDS5000X HD e SDS5000L oferecem taxas de amostragem até 5 GSa/s, permitindo aos engenheiros captar transições de sinal rápidas com elevada precisão. Cada canal suporta até 500 Mpts de memória (com todos os canais ativos), possibilitando aquisições de longa duração e alta resolução, ideais para analisar sequências de protocolo. No modo de um quarto de canal, a profundidade da memória expande-se para 2,5 Gpts por canal, permitindo análises detalhadas do sinal durante períodos prolongados. Um número efetivo de bits (ENOB) até 8,2 a 1 GHz garante uma excelente gama dinâmica e precisão do sinal, mesmo em largura de banda total.
Combinados com um ruído de fundo de apenas 140 µVrms a 1 GHz, os novos modelos oferecem uma visibilidade de sinal clara e detalhada.
Análise multicanal focada nas aplicações: Um osciloscópio de 8 canais permite uma análise abrangente de sistemas de energia trifásicos, possibilitando a ligação simultânea a todos os sinais de tensão e corrente. Esta aquisição sincronizada garante a medição precisa e em tempo real das formas de onda e dos parâmetros-chave em todas as fases.
Os engenheiros podem observar e comparar as relações de fase para detetar desequilíbrios e verificar o desempenho do sistema. Com capacidades FFT integradas, o osciloscópio também suporta a análise harmónica detalhada de sistemas trifásicos.
O software de aplicação opcional expande ainda mais a funcionalidade, proporcionando a visualização de diagramas vetoriais para diagnóstico de motores, avaliação da qualidade de energia, medição de ondulação e análise da eficiência global do sistema. Para além da análise energética, os sistemas eletrónicos modernos dependem cada vez mais de múltiplos chips e módulos integrados, cuja inicialização e operação devem ser cuidadosamente coordenadas para evitar estados indefinidos.
O teste de sequência de arranque verifica se os sinais dos diferentes módulos de circuito seguem a temporização correta, garantindo a estabilidade do sistema e prevenindo problemas como erros de transmissão de dados nos sistemas de comunicação. À medida que a complexidade do circuito aumenta, aumentam também os desafios do teste de arranque. O SDS5000X HD resolve este desafio ao captar todo o processo de arranque de todos os sinais relevantes numa única aquisição. Isto reduz o tempo de medição, melhorando a eficiência e minimizando os erros associados a testes repetidos. Para projetos complexos com até oito pistas de alimentação, esta capacidade de medição numa única aquisição é uma ferramenta poderosa para uma validação fiável.
Com o lançamento dos mais recentes osciloscópios de 8 canais da Siglent e da nova série ODP6000B de sondas diferenciais opticamente isoladas, foi preenchida uma lacuna nos testes de semicondutores de banda larga (WBG). O SDS5000X HD oferece um desempenho com um tempo de subida na ordem dos picossegundos, permitindo a captura precisa do comportamento de comutação rápida característico dos dispositivos de carboneto de silício (SiC) e nitreto de gálio (GaN). Fornece uma análise detalhada dos transitórios de tensão e corrente durante eventos de comutação, incluindo sobretensões, oscilações e outros efeitos dinâmicos.
Complementando estas capacidades, as sondas ODP6000B estão disponíveis em larguras de banda de 500 MHz e 1 GHz e apresentam uma excecional taxa de rejeição de modo comum (CMRR) de 160 dB a baixas frequências, melhorando ainda mais a precisão e a imunidade ao ruído — essenciais para medições avançadas de dispositivos WBG.
