A equipa está orientada para fabricantes de módulos de potência baseados em tecnologias de Si, SiC e GaN, onde a fiabilidade das junções e encapsulamentos é fundamental para o desempenho final do dispositivo.
Inspeção não destrutiva para processos de montagem avançados.
A crescente adoção de tecnologias de união com prata (sinterização de Ag) e cobre (sinterização de Cu) impulsiona a necessidade de ferramentas de inspeção capazes de verificar a qualidade das interfaces internas sem danificar o componente. Neste contexto, o X-SAM M51 utiliza ultrassons de alta frequência para gerar imagens internas do dispositivo e detetar defeitos como delaminações, vazios, fissuras, porosidade ou problemas de adesão entre materiais.
Graças às suas capacidades de análise não destrutiva, o sistema permite a validação dos processos de fabrico, a otimização dos parâmetros de sinterização e a realização de verificações periódicas de controlo de qualidade tanto em protótipos como em produção de baixo volume.
Concebido para laboratórios e ambientes de I&D,
o X-SAM M51 apresenta uma configuração de secretária que facilita a sua integração em laboratórios de investigação, centros de tecnologia e departamentos de engenharia de processos. O sistema incorpora um invólucro seguro e fechado, uma estação de trabalho dedicada, um monitor 2K e uma interface de software desenvolvida pela AMX para simplificar a aquisição e análise de imagens acústicas.
As principais funcionalidades integradas incluem:
Microscopia acústica de alta precisão.
Análise de defeitos utilizando o mapeamento de defeitos.
Função de varrimento completo para inspeção interna avançada.
Configuração e armazenamento dos parâmetros de teste.
Ferramentas opcionais de assistência remota.
Operação intuitiva para atividades de I&D e controlo de qualidade.
Verificação de juntas sinterizadas e encapsulamentos avançados.
Uma das principais aplicações do X-SAM M51 é a inspeção de módulos de potência submetidos a processos de sinterização, uma tecnologia cada vez mais utilizada em dispositivos de carboneto de silício (SiC) e nitreto de gálio (GaN) devido à sua elevada condutividade térmica e capacidade de operar a altas temperaturas.
O sistema permite a verificação da qualidade da interface após sinterização, montagem multicamada e processos avançados de colagem utilizados em:
módulos de potência para veículos elétricos;
conversores industriais;
sistemas de armazenamento de energia;
eletrónico para energias renováveis;
aplicações ferroviárias e aeroespaciais;
infraestrutura de data centers e computação de alto desempenho.
Automação e Rastreabilidade na Fabricação Eletrónica:
O X-SAM M51 faz parte da plataforma de inspeção acústica desenvolvida pela AMX Automatrix para a indústria da eletrónica de potência. A empresa também oferece versões totalmente automatizadas para linhas de produção, permitindo fluxos de trabalho completos, desde o desenvolvimento de protótipos até à produção em série, com rastreabilidade e controlo de qualidade integrados.
Segundo a AMX, a combinação das tecnologias de sinterização e microscopia acústica proporciona uma metodologia eficaz para melhorar a fiabilidade dos módulos de potência de última geração e reduzir os custos associados a falhas prematuras em aplicações exigentes.
Principais Características
: Tecnologia: Microscopia Acústica de Varrimento (SAM).
Tipo de Equipamento: Microscópio acústico de bancada.
Aplicação: Ensaios não destrutivos de módulos eletrónicos.
Ambientes de Utilização: Laboratório, I&D e salas limpas.
Funções de Análise: Mapeamento de defeitos e varrimento completo.
Interface AMX para aquisição e análise de dados.
Inspeção de processos de sinterização e outras tecnologias de união.
Compatível com software de controlo de qualidade e validação de processos em eletrónica de potência.
