Com uma resolução de 6,5 dígitos e uma taxa máxima de aquisição de 100.000 pontos/s, oferece capacidades de saída até ±210 V CC, ±3,03 A CC e ±10,5 A no modo de impulsos, com uma resolução de medição/programação de 10 fA/100 nV.
Funções integradas:
Suporte à operação em quatro quadrantes, permitindo operações simultâneas de fonte e medição em malha fechada para testes abrangentes do dispositivo em teste (DUT).
Modo de simulação de impulsos de alta precisão com impulsos de corrente até ±10,5 A e largura mínima de 50 µs, ideal para caracterizar condições transitórias em semicondutores de alta potência, como GaN e SiC.
As varreduras lineares, logarítmicas e de impulsos facilitam a extração rápida da curva IV e a análise do comportamento de díodos, transístores e outros componentes semicondutores.
Sequências definidas pelo utilizador com uma resolução temporal mínima de 10 µs para perfis de estímulo complexos ou testes multisegmentados.
Visualização e análise de dados através dos modos de visualização Gráfico, de Deslocação e de Medição, proporcionando uma perspetiva multidimensional dos resultados.
Programação e controlo remoto eficientes, compatíveis com comandos SCPI e ligações USB e LAN, bem como controlo através de interface web integrada ou comunicação TCP/IP para integração em sistemas de teste automatizados.
A série SMM3000X foi concebida para satisfazer as exigentes necessidades de teste de semicondutores de última geração, dispositivos optoelectrónicos avançados, materiais emergentes, baterias de novas energias e circuitos integrados de alta densidade.
