Com a eletrificação da indústria automóvel, cresce a necessidade de medidas eficazes para prevenir falhas causadas por ruído elétrico. Isto inclui proteção contra descargas eletrostáticas (ESD) na gama de nanossegundos e surtos de comutação que podem ocorrer na gama de microssegundos a milissegundos. A série XCEZ foi concebida para suprimir as falhas do sistema resultantes deste ruído, que pode entrar nas linhas de alimentação e nos conectores de diversas unidades de controlo eletrónico (ECUs) do veículo.
Para facilitar a montagem de alta densidade em projetos automóveis modernos, a série XCEZ está acondicionada num encapsulamento SOD-523 padrão da indústria, com dimensões de 1,6 mm x 0,8 mm. Este tamanho compacto reduz a área de montagem em aproximadamente 59% em comparação com o encapsulamento SOD-323 (2,5 mm x 1,25 mm) utilizado na série XCUZ existente. Esta miniaturização é uma vantagem particular para sistemas com restrições de espaço.
A série XCEZ, tal como a sua antecessora, a série XCUZ, utiliza o processo Zener patenteado da Toshiba para alcançar uma resistência dinâmica excecionalmente baixa. A baixa resistência dinâmica permite que a corrente de surto flua mais facilmente para o díodo Zener. Isto possibilita uma elevada absorção de surtos para evitar danos e falhas no sistema, além de melhorar a proteção do dispositivo e do circuito. Por exemplo, o produto XCEZ5V6 apresenta uma resistência dinâmica (RDYN) de apenas 0,16 Ω (típica).
Além disso, os novos produtos podem fornecer proteção contra surtos para impulsos de longa duração na gama de milissegundos, atingindo uma elevada potência máxima permitida de surto Zener de 6 W com uma largura de impulso de 10 ms, protegendo assim os dispositivos semicondutores contra surtos de comutação elevados e surtos próximos de CC.
A série XCEZ oferece uma gama completa de 20 produtos com tensões Zener padrão de 5,6 V a 36 V, o que os torna adequados para linhas de alimentação principais. É importante destacar que a série está em conformidade com a norma AEC-Q101, a norma de testes de fiabilidade para componentes eletrónicos automóveis.
