Los nuevos módulos abarcan la generación de formas de onda multicanal, salidas de convertidor digital-analógico (DAC) de precisión y simulación de termopares de alta densidad, lo que permite a los ingenieros simular controladores embebidos con condiciones analógicas, de sensores y de formas de onda realistas desde sistemas de prueba compactos y de plataforma abierta. Diseñados para ofrecer una alta densidad de canales en una sola ranura PXI/PXIe, una amplia compatibilidad con chasis y una compatibilidad completa con controladores, los módulos ayudan a los ingenieros a crear sistemas de pruebas automatizados de gran capacidad, al tiempo que reducen el espacio en rack, la complejidad del sistema y el riesgo de obsolescencia a largo plazo.
«Aprovechando la posición de liderazgo de Pickering en el sector de la conmutación modular de señales y la simulación de sensores, nuestra creciente gama de módulos de instrumentación de salida analógica PXI/PXIe abarca un amplio espectro de aplicaciones de pruebas electrónicas, desde la generación multicanal de formas de onda y funciones hasta salidas DAC de precisión y simulación de termopares de alta densidad», afirmó Stephen Jenkins, director de productos de simulación de Pickering. «Tanto si está desarrollando un comprobador funcional para la línea de producción como un sistema de pruebas HIL, la oferta de instrumentación de Pickering ofrece una alta densidad de canales, una precisión fiable y un soporte técnico a largo plazo de confianza».
Los módulos 41-770 PXI y 43-770 PXIe DAC proporcionan hasta cuatro canales de salida analógica totalmente aislados en una sola ranura PXI/PXIe de 3U. Cada canal se puede programar de forma independiente en múltiples rangos de tensión y corriente, con salidas de tensión de hasta ±40 V y salidas de corriente de hasta ±20 mA. Los módulos también pueden simular condiciones de circuito abierto, lo que permite a los ingenieros reproducir modos de fallo reales, como un cableado defectuoso o un fallo de un sensor, para realizar pruebas de inyección de fallos. Una función de enclavamiento por hardware proporciona protección adicional para el dispositivo sometido a prueba y para el sistema de pruebas en su conjunto.
Los generadores de formas de onda multicanal 41-625 PXI y 43-625 PXIe proporcionan hasta 32 canales de salida independientes en una única ranura PXI/PXIe de 3U. Los módulos admiten la generación de formas de onda desde CC hasta 300 kHz, lo que los hace idóneos para simular señales de acelerómetros reales y otras condiciones de estímulo multicanal. Cada canal puede almacenar formas de onda en bloques de memoria independientes, admitiendo ondas sinusoidales, formas de onda estándar o formas de onda arbitrarias definidas por el cliente, con ajuste instantáneo de la frecuencia controlado por software mediante síntesis digital directa (DDS). Las funciones de disparo permiten que eventos procedentes de otros instrumentos inicien la generación de formas de onda o barridos de frecuencia.
Los módulos PXI 41-761A de salida analógica/simulador de termopares constituyen una solución específica y diseñada expresamente para simular las salidas de los sensores de termopares con una resolución precisa a nivel de µV y la inserción de fallos integrada.
Proporcionan salidas de baja tensión de dos hilos, aisladas de forma independiente, que cubren los rangos de salida de los tipos de termopares más comunes, admiten múltiples configuraciones de unión fría y gestionan correctamente las tensiones de modo común para una simulación fiel a nivel de sensor. Con hasta 32 canales totalmente aislados por ranura, no se requiere conmutación externa ni ampliación del sistema, lo que ofrece la mayor densidad de simulación de termopares del sector en una sola ranura PXI.
«Estos nuevos módulos de salida analógica ofrecen una simulación real de la señal, no una aproximación», añadió Jenkins. «Están diseñados específicamente para pruebas, en lugar de ser instrumentos de uso general adaptados a este fin. Cada módulo está diseñado para replicar con precisión el comportamiento real de un sensor o una señal para una tarea de simulación específica —termopar, DAC o forma de onda arbitraria—, lo que permite realizar pruebas automatizadas más realistas y fiables que con fuentes de tensión de uso general o generadores de formas de onda arbitrarias».
Diseñados para la simulación HIL, las pruebas funcionales, la simulación de sensores, las pruebas de producción y la inyección de fallos, estos módulos permiten aplicar estímulos eléctricos controlados por software a controladores integrados y dispositivos bajo prueba (DUT), lo que elimina la necesidad de sensores físicos, cámaras ambientales o configuraciones manuales de fallos. Para sistemas PXI y PXIe con limitaciones de ranuras, consolidan la generación de señales, la simulación de sensores, la conmutación y la interconexión en una única arquitectura modular de ruta de señal.
Hay controladores disponibles tanto para los sistemas operativos Windows como para Linux, con una API de controladores compatible con múltiples lenguajes de programación, entre los que se incluyen C, Python, C#, MATLAB, Simulink y LabVIEW, así como un panel frontal virtual para simplificar el desarrollo y la depuración. Hay disponibles variantes PXI y PXIe, incluyendo módulos PXI que se integran en chasis PXI estándar y en chasis LXI/USB de Pickering, lo que permite a los ingenieros crear arquitecturas de prueba sostenibles y de ciclo de vida prolongado en plataformas abiertas y estándar del sector.
Todos los productos estándar fabricados por Pickering Interfaces incluyen una garantía de tres años y soporte técnico a largo plazo garantizado.
