Avec une résolution de 6,5 chiffres et une fréquence d'acquisition maximale de 100 000 points/s, il offre des capacités de sortie jusqu'à ±210 V CC, ±3,03 A CC et ±10,5 A en mode impulsionnel, avec une résolution de mesure/programmation de 10 fA/100 nV.
Fonctions intégrées :
Prise en charge du fonctionnement en quatre quadrants, permettant des opérations simultanées de source et de mesure en boucle fermée pour des tests complets du dispositif sous test (DUT).
Mode de simulation d'impulsions haute précision avec des impulsions de courant jusqu'à ±10,5 A et une largeur minimale de 50 µs, idéal pour la caractérisation des régimes transitoires dans les semi-conducteurs de puissance tels que GaN et SiC.
Les balayages linéaires, logarithmiques et d'impulsions facilitent l'extraction rapide des courbes IV et l'analyse comportementale des diodes, transistors et autres composants semi-conducteurs.
Séquences personnalisables avec une résolution temporelle minimale de 10 µs pour les profils de stimulation complexes ou les tests multi-segments.
Visualisation et analyse des données via les modes d'affichage Graphique, Défilement et Mesure, offrant une perspective multidimensionnelle des résultats.
Programmation et contrôle à distance efficaces, compatibles avec les commandes SCPI et les connexions USB et LAN, ainsi que le contrôle via une interface web intégrée ou la communication TCP/IP pour l'intégration dans des systèmes de test automatisés.
La série SMM3000X est conçue pour répondre aux exigences de test élevées des semi-conducteurs de nouvelle génération, des dispositifs optoélectroniques avancés, des matériaux émergents, des batteries à énergie nouvelle et des circuits intégrés haute densité.
