La nouvelle version inclut des exemples de projets téléchargeables à la demande. Sur le centre d'information Web d'IAR Embedded Workbench, les utilisateurs peuvent sélectionner les exemples de projets fournis par le fabricant de leur microcontrôleur.
Cette nouvelle fonctionnalité accroît la flexibilité et accélère le téléchargement et l'installation du produit. De plus, elle nécessite moins d'espace mémoire libre.
La nouvelle version améliore et étend l'intégration avec l'outil de configuration de périphériques Freescale Processor Expert Software. Cette intégration repose sur un mécanisme de connexion de projet permettant de transférer facilement le contenu d'un projet Freescale Processor Expert vers IAR Embedded Workbench. Les développeurs peuvent ainsi importer des fichiers ou des ensembles de fichiers générés par l'outil, IAR Embedded Workbench détectant automatiquement les modifications apportées à ces fichiers.
En permettant aux utilisateurs de modifier plusieurs déclarations et définitions à l'aide d'une seule directive pragma, le compilateur inclut désormais de nouvelles directives pragma pour définir l'emplacement et les attributs par défaut des déclarations et des définitions de variables ou de fonctions.
IAR Embedded Workbench pour ARM est une suite complète d'outils de développement, incluant le compilateur IAR C/C++™ hautement optimisé et le débogueur C-SPY® riche en fonctionnalités, le tout intégré dans un environnement de développement intégré convivial. Parmi les améliorations récentes, on note une intégration transparente avec les outils d'analyse de code externes et la prise en charge de la sonde I-scope™ d'IAR Systems qui, utilisée conjointement avec la sonde de débogage en circuit I-jet™, permet des mesures précises de courant et de tension.
La dernière version prend désormais en charge les nouveaux microcontrôleurs d'Atmel, NXP et Toshiba. Elle étend considérablement la compatibilité déjà étendue de l'outil à tous les cœurs ARM, soit plus de 2 600 dispositifs provenant de plus de 30 fabricants.
