Las novedades están orientadas a sistemas RF que requieren mediciones multipuerto, configuraciones MIMO, varios canales sincronizados y análisis de señales moduladas dentro de la plataforma PXI. El NI PXIe-5633 amplía a cuatro puertos las capacidades de análisis vectorial de redes disponibles en la plataforma.
Esta configuración permite abordar la caracterización de dispositivos que disponen de varias trayectorias RF y realizar mediciones de parámetros S multipuerto. Un VNA de cuatro puertos permite analizar directamente un mayor número de relaciones entre entradas y salidas que un instrumento de dos puertos, algo relevante en componentes y subsistemas con múltiples trayectorias de señal.
El comunicado, sin embargo, no proporciona especificaciones del PXIe-5633 como rango de frecuencias, rango dinámico, potencia de salida, ruido de traza, velocidad de medida o estabilidad, por lo que no es posible evaluar cuantitativamente su rendimiento.
La segunda novedad corresponde al NI PXIe-5860, un transceptor vectorial de señales para el que NI ha incorporado mejoras de software relacionadas con la sincronización. Estas funciones están dirigidas a aplicaciones MIMO, multicanal y sensibles a la temporización, en las que varias señales RF deben generarse, adquirirse o analizarse de forma coordinada.
El objetivo es utilizar varios canales dentro de una arquitectura de pruebas sincronizada para caracterizar sistemas inalámbricos basados en múltiples antenas y trayectorias RF. La información facilitada no cuantifica la precisión de sincronización ni especifica los mecanismos utilizados para sincronizar varios PXIe-5860.
Una de las características destacadas de la plataforma es la posibilidad de combinar la caracterización de parámetros S con medidas sobre señales RF moduladas.
Según NI, ambas clases de medición pueden realizarse utilizando una única conexión RF dentro del sistema de pruebas.
La integración del VNA y del VST en una arquitectura PXI controlada mediante software permite concentrar diferentes tareas de medida dentro de un mismo sistema. Este planteamiento puede reducir la necesidad de realizar configuraciones independientes para cada clase de prueba, aunque el comunicado no aporta cifras sobre reducción del número de instrumentos, tiempo de ensayo o coste del sistema.
Tanto el PXIe-5633 como el PXIe-5860 se integran en la plataforma modular PXI, lo que permite combinar diferentes instrumentos dentro de una misma arquitectura de pruebas.
NI orienta esta configuración a flujos automatizados que pueden utilizarse desde las etapas de validación de diseño hasta entornos de producción.
La modularidad también permite configurar sistemas con diferentes números de canales en función de los requisitos de cada aplicación.
No obstante, expresiones del comunicado como “escalable” o “adaptable al crecimiento futuro” describen las características generales de la arquitectura y no constituyen por sí mismas métricas de rendimiento de los nuevos instrumentos.
La compañía dirige estas herramientas a aplicaciones de validación de semiconductores, investigación en comunicaciones inalámbricas y sistemas aeroespaciales y de defensa, además de otros equipos RF basados en arquitecturas multiantena y multicanal.
