Equipos de Prueba y Medida
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Emerson ha anunciado la incorporación de nuevos instrumentos a su plataforma NI PXI, con el objetivo de ampliar las opciones de medición y facilitar el desarrollo de sistemas de pruebas automatizadas mediante herramientas de software e inteligencia artificial.
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A medida que los sistemas de comunicación inalámbrica, las tecnologías de radar y las aplicaciones electrónicas de alta frecuencia siguen evolucionando, los requisitos que deben cumplir los equipos de prueba y medición de RF son cada vez más exigentes.
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Spectrum Instrumentation ha presentado una nueva opción de firmware que permite realizar promediado por suma directamente en la FPGA de los digitalizadores de alta resolución de la serie 59xx.
Esta función está diseñada para reducir el ruido aleatorio de las señales adquiridas y mejorar la relación señal/ruido (SNR), la resolución de medida y el rango dinámico.
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Testblox AB ha anunciado el lanzamiento de una plataforma modular para pruebas funcionales automatizadas, concebida para integrar instrumentos de medida y control directamente en los útiles de ensayo utilizados durante la verificación de equipos electrónicos.
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NI, perteneciente al negocio de pruebas y medida de Emerson, ha ampliado sus herramientas para pruebas de radiofrecuencia con el NI PXIe-5633, un analizador vectorial de redes (VNA) de cuatro puertos, y nuevas funciones de software para el transceptor vectorial de señales (VST) NI PXIe-5860.
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Pickering Interfaces ha presentado la 65-217, una matriz LXI modular controlada mediante Ethernet y desarrollada para su plataforma de chasis escalable 65-200. Cada módulo enchufable proporciona una matriz 64×8 de 1 polo y admite corrientes de hasta 2 A. La arquitectura permite instalar hasta seis módulos en un único chasis para obtener una matriz de hasta 384×8.
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Con la nueva serie SSG3000X Plus, SIGLENT responde a estos requisitos cambiantes presentando el sucesor de su consolidada serie SSG3000X. La nueva generación eleva el nivel de rendimiento de los generadores de señales de RF analógicos de nivel básico de SIGLENT, al tiempo que mantiene el enfoque en las pruebas de RF accesibles y de uso general.
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Rohde & Schwarz ha ampliado su gama de amplificadores de sistema con el R&S SAM200, una nueva familia de amplificadores de potencia de estado sólido que cubre frecuencias de entre 20 y 53 GHz y proporciona hasta 4 W de potencia de saturación.
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Farnell amplía el acceso a NI Nigel™ AI de Emerson, una tecnología de inteligencia artificial diseñada específicamente para aplicaciones de prueba y medida. Las nuevas mejoras, ya disponibles a través de Farnell, hacen evolucionar esta tecnología de un asistente basado en IA a una herramienta capaz de generar contenido, gracias a nuevas funciones de generación de código y desarrollo automatizado de pruebas en toda la gama de software de NI.
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Emerson ha anunciado una actualización de su software NI SystemLink, que incorpora nuevas funciones de planificación y programación de recursos, así como la integración de NI Nigel AI para el análisis de datos de pruebas de ingeniería.
Las nuevas funciones están orientadas a centralizar los datos generados durante las pruebas y relacionarlos con información sobre equipos, versiones de software, configuraciones, calendarios y flujos de trabajo.
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Fluke ha anunciado la ampliación de su serie Fluke iSee™ Mobile Imaging con dos nuevas soluciones profesionales de imagen: la cámara térmica TC03A y la cámara acústica ii01 para dispositivos Android™. En conjunto, las nuevas cámaras ofrecen a los equipos de mantenimiento la capacidad de detectar anomalías térmicas y acústicas ocultas mediante herramientas compactas y diseñadas para dispositivos móviles que proporcionan diagnósticos de nivel profesional directamente desde un smartphone.
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Pickering Interfaces ha presentado la familia de conmutadores SPST LXI de alta corriente y detección 60-191. Esta nueva familia, que constituye la gama de productos de conmutación de mayor corriente de la empresa hasta la fecha, permite conmutar señales de hasta 80 A y 300 V, al tiempo que simplifica la distribución, la secuenciación y la gestión de múltiples fuentes de alimentación de alta corriente en sistemas de pruebas automatizados.
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