L'équipe est orientée vers les fabricants de modules de puissance basés sur les technologies Si, SiC et GaN, pour lesquels la fiabilité des jonctions et des encapsulations est essentielle aux performances finales du dispositif.
Inspection non destructive pour les procédés d'assemblage avancés.
L'adoption croissante des technologies d'assemblage argent (frittage Ag) et cuivre (frittage Cu) engendre un besoin accru d'outils d'inspection capables de vérifier la qualité des interfaces internes sans endommager le composant. Dans ce contexte, le X-SAM M51 utilise des ultrasons haute fréquence pour générer des images internes du dispositif et détecter des défauts tels que délaminations, porosités, fissures, défauts d'adhérence entre les matériaux.
Grâce à ses capacités d'analyse non destructive, le système permet la validation des procédés de fabrication, l'optimisation des paramètres de frittage et la réalisation de contrôles qualité périodiques sur les prototypes et les petites séries.
Conçu pour les laboratoires et les environnements de R&D,
le X-SAM M51 se présente sous la forme d'un système de bureau facilitant son intégration dans les laboratoires de recherche, les centres technologiques et les services d'ingénierie des procédés. Ce système comprend un boîtier sécurisé et fermé, un poste de travail dédié, un moniteur 2K et une interface logicielle développée par AMX pour simplifier l'acquisition et l'analyse d'images acoustiques.
Les principales fonctionnalités intégrées comprennent :
la microscopie acoustique haute précision,
l’analyse des défauts par cartographie,
la fonction de balayage pour une inspection interne avancée,
la configuration et l’enregistrement des paramètres de test,
des outils d’assistance à distance (en option),
une utilisation intuitive pour la R&D et le contrôle qualité, ainsi que
la vérification des joints frittés et des encapsulations avancées.
L’une des principales applications du X-SAM M51 est l’inspection des modules de puissance soumis à des procédés de frittage, une technologie de plus en plus utilisée dans les dispositifs en carbure de silicium (SiC) et en nitrure de gallium (GaN) en raison de leur conductivité thermique élevée et de leur capacité à fonctionner à haute température.
Ce système permet de vérifier la qualité des interfaces après frittage, assemblage multicouche et procédés de collage avancés utilisés dans :
les modules de puissance pour véhicules électriques ;
les convertisseurs industriels ;
les systèmes de stockage d’énergie ;
l’électronique pour les énergies renouvelables ;
les applications ferroviaires et aérospatiales ;
les centres de données et les infrastructures de calcul haute performance.
Automatisation et traçabilité dans la fabrication électronique :
le X-SAM M51 fait partie de la plateforme d’inspection acoustique développée par AMX Automatrix pour l’industrie de l’électronique de puissance. L’entreprise propose également des versions entièrement automatisées pour les lignes de production, permettant des flux de travail complets, du développement de prototypes à la production en série, avec traçabilité et contrôle qualité intégrés.
Selon AMX, l’association des technologies de frittage et de microscopie acoustique constitue une méthode efficace pour améliorer la fiabilité des modules de puissance de nouvelle génération et réduire les coûts liés aux défaillances prématurées dans les applications exigeantes.
Caractéristiques principales
: Technologie : Microscopie acoustique à balayage (SAM).
Type d’équipement : Microscope acoustique de paillasse.
Application : Contrôle non destructif des modules électroniques.
Environnements d’utilisation : Laboratoire, R&D et salles blanches.
Fonctions d’analyse : Cartographie des défauts et analyse en profondeur.
Interface AMX pour l’acquisition et l’analyse des données.
Inspection des procédés de frittage et autres techniques d’assemblage.
Compatible avec les logiciels de contrôle qualité et de validation des procédés en électronique de puissance.
