I nuovi moduli includono la generazione di forme d'onda multicanale, uscite di conversione digitale-analogica (DAC) di precisione e simulazione di termocoppie ad alta densità, consentendo agli ingegneri di simulare controller embedded con condizioni analogiche, di sensori e di forme d'onda realistiche da sistemi di test compatti a piattaforma aperta. Progettati per offrire un'elevata densità di canali in un singolo slot PXI/PXIe, un'ampia compatibilità con gli chassis e il supporto completo dei controller, i moduli aiutano gli ingegneri a creare sistemi di test automatizzati ad alta capacità, riducendo al contempo lo spazio occupato nei rack, la complessità del sistema e il rischio di obsolescenza a lungo termine.

“Sfruttando la posizione di leadership di Pickering nella commutazione modulare del segnale e nella simulazione di sensori, la nostra gamma in espansione di moduli di strumentazione con uscita analogica PXI/PXIe copre un ampio spettro di applicazioni di test elettronico, dalla generazione di forme d'onda e funzioni multicanale alle uscite DAC di precisione e alla simulazione di termocoppie ad alta densità”, ha affermato Stephen Jenkins, Product Manager per la simulazione presso Pickering. “Che si tratti di sviluppare un tester funzionale per la linea di produzione o un sistema di test HIL, l'offerta di strumentazione di Pickering garantisce un'elevata densità di canali, un'accuratezza affidabile e un supporto tecnico a lungo termine di comprovata affidabilità.”.

I moduli DAC 41-770 PXI e 43-770 PXIe offrono fino a quattro canali di uscita analogici completamente isolati in un singolo slot PXI/PXIe 3U. Ciascun canale può essere programmato indipendentemente su diverse gamme di tensione e corrente, con uscite di tensione fino a ±40 V e uscite di corrente fino a ±20 mA. I moduli possono anche simulare condizioni di circuito aperto, consentendo agli ingegneri di riprodurre modalità di guasto reali, come un cablaggio difettoso o un guasto del sensore, per i test di iniezione di guasti. Una funzione di interblocco hardware fornisce un'ulteriore protezione per il dispositivo in prova e per l'intero sistema di test.

I generatori di forme d'onda multicanale 41-625 PXI e 43-625 PXIe offrono fino a 32 canali di uscita indipendenti in un singolo slot PXI/PXIe 3U. I moduli supportano la generazione di forme d'onda da CC a 300 kHz, risultando ideali per simulare segnali accelerometrici reali e altre condizioni di stimolazione multicanale. Ciascun canale può memorizzare forme d'onda in blocchi di memoria indipendenti, supportando onde sinusoidali, forme d'onda standard o forme d'onda arbitrarie definite dal cliente, con regolazione istantanea della frequenza controllata via software tramite sintesi digitale diretta (DDS). Le funzioni di trigger consentono di attivare, tramite eventi provenienti da altri strumenti, la generazione di forme d'onda o le scansioni di frequenza.

I moduli di simulazione di uscite analogiche/termocoppie PXI 41-761A sono una soluzione specifica per la simulazione di uscite di sensori a termocoppia con un'accurata risoluzione in µV e inserimento di guasti integrato.
Forniscono uscite a bassa tensione a due fili, isolate indipendentemente, che coprono gli intervalli di uscita dei tipi di termocoppia più comuni, supportano diverse configurazioni di giunzione fredda e gestiscono con precisione le tensioni di modo comune per una simulazione a livello di sensore reale. Con un massimo di 32 canali completamente isolati per slot, non sono necessari switch esterni o espansioni di sistema, offrendo la più alta densità di simulazione di termocoppie del settore in un singolo slot PXI.

"Questi nuovi moduli di uscita analogica offrono una simulazione fedele del segnale, non un'approssimazione", ha aggiunto Jenkins. "Sono progettati specificamente per i test, anziché essere strumenti generici adattati a questo scopo. Ogni modulo è progettato per replicare con precisione il comportamento effettivo di un sensore o di un segnale per una specifica attività di simulazione (termocoppia, DAC o forma d'onda arbitraria), consentendo test automatizzati più realistici e affidabili rispetto a generatori di tensione generici o generatori di forme d'onda arbitrarie.".

Progettati per la simulazione HIL, i test funzionali, la simulazione di sensori, i test di produzione e l'iniezione di guasti, questi moduli consentono l'applicazione di stimoli elettrici controllati via software a controller embedded e dispositivi in ​​prova (DUT), eliminando la necessità di sensori fisici, camere climatiche o configurazioni manuali dei guasti. Per i sistemi PXI e PXIe con vincoli di slot, consolidano la generazione del segnale, la simulazione dei sensori, la commutazione e l'interconnessione in un'unica architettura modulare del percorso del segnale.

Sono disponibili driver sia per sistemi operativi Windows che Linux, con un'API che supporta diversi linguaggi di programmazione, tra cui C, Python, C#, MATLAB, Simulink e LabVIEW, oltre a un pannello frontale virtuale per semplificare lo sviluppo e il debug. Sono disponibili varianti PXI e PXIe, inclusi moduli PXI che si integrano negli chassis PXI standard e negli chassis LXI/USB di Pickering, consentendo agli ingegneri di creare architetture di test sostenibili e di lunga durata su piattaforme aperte e conformi agli standard di settore.

Tutti i prodotti standard fabbricati da  Pickering Interfaces includono una garanzia di tre anni e un supporto tecnico garantito a lungo termine.