I clienti possono scegliere il pacchetto più adatto alle proprie esigenze, comprensivo di hardware, software e apparecchiature di test. Ciò può essere fatto tramite noleggio a breve o lungo termine, oppure acquistando apparecchiature nuove o usate. I prodotti noleggiati possono essere facilmente aggiornati o sostituiti qualora il processo di test dovesse cambiare.
 
Questi sono alcuni degli aspetti trattati dal Semiconductor Tool Box, ora disponibile tramite Microlease:
 
• Test di potenza – Chiaramente, una delle principali sfide per l'industria dei semiconduttori consiste nella verifica delle perdite di potenza dei circuiti integrati (IC). In questo modo si garantisce che i prodotti finali che incorporano questi IC abbiano un basso consumo energetico, beneficiando così di una maggiore durata della batteria (nel caso dell'elettronica di consumo) o raggiungendo una maggiore classe energetica (negli elettrodomestici). Inoltre, i progressi nella tecnologia di potenza implicano una minore dissipazione di calore, con conseguenti minori esigenze di gestione termica (e i relativi vantaggi in termini di costi e ingombro). Tra le numerose opzioni di noleggio e acquisto offerte da Microlease, è disponibile un ampio catalogo di alimentatori e soluzioni per il test di potenza, come l'analizzatore di parametri Keysight B1500 (con una frequenza di campionamento di 100 µs) e la serie 26xx di misuratori di potenza per alimentatori di Keithley/Tektronix.
 
• Test di circuiti integrati RF – Con l'introduzione di nuovi standard wireless, come LTE Advanced Pro, 5G e 802.11ax, nonché di tecniche di nuova generazione per migliorare le prestazioni RF, come l'envelope tracking (ET) e la predistorsione digitale (DPD), i team di ingegneri addetti ai test sono sottoposti a una pressione senza precedenti. Devono trovare modi più efficaci per ridurre i tempi di test e mantenere un'elevata produttività, il tutto senza costi aggiuntivi e senza compromettere la precisione. Tra gli strumenti offerti da Microlease per i test RF figurano l'analizzatore di segnale Keysight N9040B (con una larghezza di banda fino a 50 GHz e una gamma dinamica senza spurie di 78 dBc) e il generatore di segnale ad alte prestazioni E8267D (con numerose opzioni di configurazione).
 
• Test di progettazione – Gli oscilloscopi costituiscono la base per praticamente tutte le procedure di test. Grazie alla sua gamma completa di oscilloscopi, Microlease è in grado di fornire ai clienti una soluzione completamente ottimizzata e personalizzata in base alle loro specifiche esigenze tecniche e di budget. Questa gamma comprende modelli analogici e digitali standard, nonché modelli ad alte prestazioni da 40 GHz. Sono inclusi anche sistemi a segnale misto (che combinano l'oscilloscopio con un analizzatore logico) e sistemi a dominio misto (composti dall'oscilloscopio e da un analizzatore di spettro integrato).
 
• Test del livello fisico – Per garantire che i parametri fisici dei circuiti integrati soddisfino le specifiche previste, spesso è necessario utilizzare un analizzatore di rete RF con funzione di riflettometro nel dominio del tempo (TDR). Microlease dispone di un'ampia gamma di apparecchiature dei principali produttori, tra cui il Rohde & Schwarz ZVA-67 a 4 porte da 67 GHz e la serie Keysight PNA-X da 50 GHz.
 
“Con spedizioni annuali di circuiti integrati che si avvicinano a 1 miliardo di unità, l'utilizzo di architetture più piccole e l'emergere di nuovi processi come GaN e SiC, insieme alla crescente proliferazione di dispositivi MEMS, l'industria dei semiconduttori si trova ad affrontare esigenze senza precedenti”, afferma George Acris, Direttore Marketing di Microlease. “Grazie al vasto e affidabile inventario di Microlease, supportato dai nostri esperti applicativi, i professionisti del testing hanno accesso praticamente illimitato alla tecnologia di test avanzata di cui hanno bisogno, nel modo più economico e flessibile. E tutto questo è possibile senza doversi preoccupare di lunghi tempi di consegna, obsolescenza delle apparecchiature o costi nascosti associati alla manutenzione o alla calibrazione.”.

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