El nuevo software introduce JTAG interno de gran ancho de banda (IJTAG) y funcionalidad de transmisión de datos genérica para ayudar a los clientes a reducir los costes y el tiempo de prueba acelerando los datos mediante el uso del bus ancho del software Tessent Streaming Scan Network (SSN) de Siemens.
La industria de los semiconductores se enfrenta a una evolución sin precedentes y acelerada a medida que la densidad de los transistores se expande en múltiples dimensiones. A medida que los diseños de semiconductores avanzan de 2D a 2,5D y a arquitecturas IC totalmente 3D, los retos de las pruebas de diseño se han multiplicado exponencialmente. El aumento del número de patrones de prueba, los tiempos de aplicación de patrones más largos, los altos costes de los equipos de prueba automática (ATE) y el número limitado de pines de prueba accesibles significan que la optimización de la infraestructura existente para el escalado de pruebas no solo es crucial, sino imprescindible para mantener una ventaja competitiva en el proceso de diseño.
«En los complejos diseños de circuitos integrados actuales, la optimización del tiempo de prueba es un reto importante. Al utilizar la arquitectura SSN de Siemens para convertir las operaciones IJTAG en serie tradicionales en procesos paralelos de gran ancho de banda, Tessent IJTAG Pro no solo acelera las pruebas y reduce los costes asociados a ellas, sino que también proporciona la flexibilidad necesaria para revolucionar el acceso a las pruebas y satisfacer las necesidades cambiantes del sector», afirma Ankur Gupta, vicepresidente senior y director general de DDCP, Siemens Digital Industries Software. «A medida que el diseño de semiconductores pasa de simples arquitecturas de circuitos integrados 2D a arquitecturas 3D completas, el ahorro en los costes de prueba se aplicará a cada chiplet, así como a todo el paquete de circuitos integrados 3D».
«IJTAG de alto ancho de banda aprovecha de forma innovadora la arquitectura de bus SSN y ofrece patrones mucho más rápidos que los métodos seriales tradicionales, lo que conduce a una reducción sustancial del tiempo de aplicación de las pruebas, especialmente para las pruebas BIST y de IP de señal mixta», afirmó Srinivas Vooka, director sénior de ingeniería de Google.
La combinación de las características de IJTAG Pro junto con el reciente anuncio del software Tessent™ AnalogTest de Siemens supone una importante ampliación de las capacidades y el ancho de banda.
