En combinación con la tecnología Tessent DefectSim de Siemens el nuevo software Tessent AnalogTest ayuda a reducir el tiempo de codificación de las pruebas de circuitos analógicos en los CIs, ya que genera automáticamente circuitos de diseño para pruebas (DFT) de impacto mínimo y patrones de pruebas digitales para casi cualquier bloque de circuitos analógicos. Las pruebas se ejecutan en menos de un milisegundo en casi cualquier probador, y la cobertura de defectos se puede verificar en simulación hasta 1000 veces más rápido que las pruebas basadas en especificaciones.
La introducción de Tessent AnalogTest supone la primera solución DFT automatizada para circuitos analógicos en circuitos integrados, que proporciona vectores digitales para probar y calcular la cobertura de las pruebas de forma eficiente antes de pasar a la producción de silicio. La solución aprovecha los equipos de prueba automatizados digitales (ATE) para el desarrollo de circuitos analógicos, lo que reduce los costes y mejora la productividad en comparación con el uso de probadores de señales mixtas más caros. Esta aceleración permite a los diseñadores de circuitos integrados alcanzar y verificar una alta cobertura de defectos (>90 %) basada en IEEE P2427 en cuestión de horas para bloques de circuitos individuales, lo que establece nuevos estándares de velocidad y reduce drásticamente el tiempo de comercialización.
El software amplía de forma única sus capacidades de generación de pruebas estructurales mediante la producción de bancos de pruebas de simulación a partir de pruebas basadas en especificaciones, utilizando las intuitivas descripciones de pruebas ICL y PDL de alto nivel especificadas por la norma IEEE P1687.2, que es la extensión analógica del estándar digital IJTAG ampliamente utilizado. Estas pruebas pueden verificar el flujo de pruebas analógicas y la cobertura de defectos para el recorte algorítmico, las pruebas paramétricas de recarga o las métricas de seguridad funcional ISO 26262. Además, la incorporación de las pruebas de escaneo puede mejorar aún más estas métricas.
