con una resolución de 6½ dígitos y una tasa máxima de adquisición de 100.000 puntos/s. Ofrece capacidades de salida de hasta ±210 V DC, ±3.03 A DC y ±10.5 A en modo pulsado, con una resolución de medición/programación de 10 fA/100 nV.
Funciones integradas
Soporte de operación en cuatro cuadrantes, permitiendo operaciones simultáneas de fuente y medición en lazo cerrado para pruebas exhaustivas en dispositivos bajo prueba (DUT).
Modo de simulación de pulsos de alta precisión con pulsos de corriente de hasta ±10.5 A y ancho mínimo de 50 µs, ideal para caracterizar condiciones transitorias en semiconductores de alta potencia como GaN y SiC.
Barridos lineales, logarítmicos y por pulsos, facilitando la extracción rápida de curvas I-V y análisis de comportamiento de diodos, transistores y otros componentes semiconductores.
Secuencias definidas por el usuario, con resolución de tiempo mínima de 10 µs para perfiles de estímulo complejos o pruebas multi-segmento.
Visualización y análisis de datos a través de modos de vista Gráfica, Roll y Medición, proporcionando una perspectiva multidimensional de los resultados.
Programación y control remoto eficientes, compatibles con comandos SCPI y conexiones USB y LAN, así como control vía interfaz web integrada o comunicación TCP/IP para integrarse en sistemas de prueba automatizados.
La serie SMM3000X está pensada para satisfacer las exigentes necesidades de pruebas en semiconductores de próxima generación, dispositivos optoelectrónicos avanzados, materiales emergentes, baterías de nueva energía y circuitos integrados de alta densidad.
