Il nuovo software introduce funzionalità di JTAG interno ad alta larghezza di banda (IJTAG) e di streaming dati generico per aiutare i clienti a ridurre costi e tempi di test accelerando i dati attraverso l'ampio bus del software Tessent Streaming Scan Network (SSN) di Siemens.
L'industria dei semiconduttori sta affrontando un'evoluzione senza precedenti e in rapida accelerazione, con la densità dei transistor che si espande in più dimensioni. Con l'avanzamento della progettazione dei semiconduttori da architetture IC 2D a 2.5D e completamente 3D, le sfide del test di progettazione si sono moltiplicate esponenzialmente. Il numero crescente di pattern di test, i tempi di applicazione dei pattern più lunghi, gli elevati costi delle apparecchiature di test automatizzate (ATE) e il numero limitato di pin di test accessibili implicano che l'ottimizzazione dell'infrastruttura esistente per la scalabilità dei test non sia solo cruciale, ma essenziale per mantenere un vantaggio competitivo nel processo di progettazione.
“Nei complessi progetti di circuiti integrati odierni, l'ottimizzazione dei tempi di test rappresenta una sfida importante. Sfruttando l'architettura SSN di Siemens per trasformare le tradizionali operazioni seriali IJTAG in processi paralleli ad alta larghezza di banda, Tessent IJTAG Pro non solo accelera i test e riduce i costi associati, ma offre anche la flessibilità necessaria per rivoluzionare l'accesso ai test e soddisfare le esigenze in continua evoluzione del settore”, ha affermato Ankur Gupta, vicepresidente senior e direttore generale di DDCP, Siemens Digital Industries Software. “Con l'evoluzione della progettazione dei semiconduttori da semplici architetture di circuiti integrati 2D ad architetture 3D complete, il risparmio sui costi di test si applicherà a ciascun chiplet, nonché all'intero package del circuito integrato 3D.”.
"La tecnologia IJTAG ad alta larghezza di banda sfrutta in modo innovativo l'architettura del bus SSN e offre pattern molto più veloci rispetto ai metodi seriali tradizionali, portando a una sostanziale riduzione dei tempi di applicazione dei test, soprattutto per i test BIST e IP a segnale misto", ha affermato Srinivas Vooka, direttore senior dell'ingegneria presso Google.
La combinazione delle funzionalità di IJTAG Pro con il recente annuncio di Siemens del software Tessent™ AnalogTest rappresenta un'espansione significativa delle capacità e della larghezza di banda.
