Caratteristiche principali:
Capacità di test in parallelo fino a 48 siti a 1,7 kV e 20 A e fino a 16 siti a 4 kV e 20 A.
Elevata efficienza nel test di wafer e strip, con la possibilità di misurare la resistenza di gate (Rg), la capacità di gate (Cg) e la commutazione induttiva sbloccata (UiS) su 48 siti in parallelo.
Sorgenti di corrente CC di media potenza con fino a 64 risorse (±110 V, ±4 A).
Capacità di assorbimento/sorgente di corrente programmabile fino a ±250 A.
Fino a 320 canali digitali con livelli di uscita da -1,25 V a 6,75 V, 64 MB di memoria pattern per canale e un PPMU per canale.
Unità di misura del tempo, controllori flottanti digitali, misuratori LCR, PPMU e picometri con precisione fino a 20 pA, tutti disponibili in configurazioni fino a 64 unità.
Carichi induttivi e resistivi configurabili.
Opzione alta tensione (AT) fino a 1700 V.
Dimensioni:
Altezza: 350 mm
Larghezza: 600 mm
Profondità: 640 mm
MICROTEST
Il VIP Extended offre una soluzione efficiente ed economica per il collaudo di prodotti di potenza, ottimizzando le prestazioni e riducendo i costi operativi.
