Barcelona (19. Oktober),
Saragossa (21. Oktober)
, Valencia (24. Oktober)
, Madrid (26. Oktober),
Bilbao (16. November):
In diesem Seminar werden die Grundlagen für die Entwicklung und Lösung der häufigsten Probleme der elektromagnetischen Verträglichkeit mithilfe von Scannern und Nahfeldmessgeräten vorgestellt.
Dies ist ein äußerst praxisorientiertes Seminar und sehr nützlich für alle, die die wichtigsten Konzepte im Zusammenhang mit einigen der häufigsten Herausforderungen im Bereich EMV auffrischen und gleichzeitig eine Reihe von Werkzeugen mit großem Potenzial für die Analyse und Optimierung eines spezifischen Designs entdecken möchten.
Das Seminar wird von Arturo Mediano, PhD in Wirtschaftsingenieurwesen und Professor an der Universität Saragossa sowie Mitglied der Gruppe Leistungselektronik und Mikroelektronik (GEPM) des Universitätsinstituts für Ingenieurforschung von Aragon an der Universität Saragossa, gehalten.
Die Agenda des Seminars sieht wie folgt aus:
Programmübersicht
08:30 – 09:00 Registrierung
09:00 – 09:15 Begrüßung und Präsentation
09:15 – 10:45 Wiederholung der Grundlagen von EMV/EMK
• EMV/EMK: Quellen und Betroffene
• Zwei Probleme: Emission und Störfestigkeit
• Elektrische und magnetische Felder in elektronischen Schaltungen
• Warum haben wir EMV/EMK-Probleme?
• Das große Geheimnis: Stromkontrolle
• Entdecken Sie Nah- und Fernfelder
10:45 – 11:30 Werkzeuge für Design und Diagnose
• Nahfeldsonden und Zubehör
• Nahfeldscanner
• Räumlicher und spektraler Scanner
11:30 – 12:00 Kaffeepause
12:00 – 13:00 Anwendungsbeispiele und Demonstrationen
• Scanner in verschiedenen realen Anwendungen
• Demonstrationen mit FieldFox und EMSCAN
• Beispiel: Ferrite, Kabel, Entkopplung und Filterung
13:00 – 14:00 Präsentation der verwendeten Messlösungen und Fragen
Die Teilnahme an diesem Seminar ist kostenlos, die Anzahl der Plätze ist jedoch begrenzt.
Sie können sich über die Website, telefonisch unter 800 000 154 oder, falls Sie dies bevorzugen, per E-Mail mit Ihren Kontaktdaten anmelden
