mit einer Auflösung von 6,5 Stellen und einer maximalen Erfassungsrate von 100.000 Punkten/s. Es bietet Ausgangsleistung von bis zu ±210 V DC, ±3,03 A DC und ±10,5 A im Pulsmodus, mit einer Mess-/Programmierauflösung von 10 fA/100 nV.
Integrierte Funktionen:
Vierquadrantenbetrieb ermöglicht simultane Regelung und Messung im geschlossenen Regelkreis für umfassende Prüflingstests.
Hochpräziser Pulssimulationsmodus mit Stromimpulsen bis zu ±10,5 A und einer minimalen Impulsbreite von 50 µs, ideal zur Charakterisierung transienter Zustände in Hochleistungshalbleitern wie GaN und SiC.
Lineare, logarithmische und Puls-Sweeps ermöglichen die schnelle Ermittlung von IV-Kennlinien und die Verhaltensanalyse von Dioden, Transistoren und anderen Halbleiterbauelementen.
Benutzerdefinierte Sequenzen mit einer minimalen Zeitauflösung von 10 µs für komplexe Anregungsprofile oder Tests mit mehreren Segmenten.
Datenvisualisierung und -analyse über Grafik-, Roll- und Messansicht bieten eine multidimensionale Perspektive der Ergebnisse.
Effiziente Programmierung und Fernsteuerung, kompatibel mit SCPI-Befehlen und USB- und LAN-Verbindungen sowie Steuerung über eine integrierte Weboberfläche oder TCP/IP-Kommunikation zur Integration in automatisierte Testsysteme.
Die SMM3000X-Serie wurde entwickelt, um die anspruchsvollen Testanforderungen von Halbleitern der nächsten Generation, fortschrittlichen optoelektronischen Bauelementen, neuen Materialien, neuen Energiebatterien und hochdichten integrierten Schaltungen zu erfüllen.
