Die neue Software bietet interne JTAG-Schnittstellen mit hoher Bandbreite (IJTAG) und generische Datenstreaming-Funktionalität. Dadurch können Kunden Kosten und Testzeiten reduzieren, indem die Datenübertragung über den breiten Bus der Siemens Tessent Streaming Scan Network (SSN)-Software beschleunigt wird.
Die Halbleiterindustrie befindet sich in einer beispiellosen und rasanten Entwicklung, da die Transistordichte in mehreren Dimensionen zunimmt. Mit dem Fortschritt von Halbleiterdesigns von 2D über 2,5D bis hin zu vollständig 3D-IC-Architekturen haben sich die Herausforderungen beim Designtest exponentiell vervielfacht. Die steigende Anzahl an Testmustern, längere Musterapplikationszeiten, hohe Kosten für automatisierte Testgeräte (ATE) und die begrenzte Anzahl zugänglicher Testpins machen die Optimierung der bestehenden Infrastruktur für die Testskalierung nicht nur wichtig, sondern unerlässlich, um im Designprozess wettbewerbsfähig zu bleiben.
„Bei den heutigen komplexen Designs integrierter Schaltungen stellt die Optimierung der Testzeit eine große Herausforderung dar. Durch die Nutzung der SSN-Architektur von Siemens zur Umwandlung herkömmlicher serieller IJTAG-Operationen in parallele Prozesse mit hoher Bandbreite beschleunigt Tessent IJTAG Pro nicht nur das Testen und senkt die damit verbundenen Kosten, sondern bietet auch die nötige Flexibilität, um den Zugang zum Testen grundlegend zu verändern und den sich wandelnden Anforderungen der Branche gerecht zu werden“, sagte Ankur Gupta, Senior Vice President und General Manager von DDCP, Siemens Digital Industries Software. „Mit der Weiterentwicklung des Halbleiterdesigns von einfachen 2D-Architekturen hin zu vollständigen 3D-Architekturen werden die Kosteneinsparungen beim Testen sowohl für jedes einzelne Chiplet als auch für das gesamte 3D-Gehäuse der integrierten Schaltung gelten.“.
„High-bandwidth IJTAG nutzt auf innovative Weise die SSN-Busarchitektur und liefert deutlich schnellere Muster als herkömmliche serielle Methoden, was zu einer erheblichen Reduzierung der Testanwendungszeit führt, insbesondere bei BIST- und Mixed-Signal-IP-Tests“, sagte Srinivas Vooka, Senior Director of Engineering bei Google.
Die Kombination der Funktionen von IJTAG Pro mit der kürzlich erfolgten Ankündigung der Tessent™ AnalogTest-Software von Siemens stellt eine signifikante Erweiterung der Leistungsfähigkeit und Bandbreite dar.
