Die AF013x Hyperlux-Serie ermöglicht hochpräzise Messungen über große Entfernungen und 3D-Bildgebung von sich schnell bewegenden Objekten mithilfe der patentierten neuen Global-Shutter-Pixelarchitektur und des integrierten Speichers von ON Semiconductor. Ausgestattet mit einem 1/3,2"-CMOS-Sensor mit rückseitig belichteten Sensoren (BSI) für Tiefenmessung und Bildgebung, ermöglichen diese Sensoren integrierte Dual-Laser-Controller mit Modulationsfrequenzen bis zu 200 MHz und eine augensichere Laserschwellenüberwachung.
Der AF0130 iToF-Bildsensor verfügt über einen Tiefenverarbeitungs-ASIC unterhalb der Pixel, der aus den lasermodulierten Belichtungen in Echtzeit Tiefen-, Konfidenz- und Intensitätskarten berechnet. Der AF0130 Hyperlux-Sensor kann eine gesamte Szene erfassen und gleichzeitig Tiefenmessungen in Echtzeit durchführen. Die AF013x-Sensorfamilie erzeugt zudem gleichzeitig Monochrombilder und Tiefeninformationen und ermöglicht so eine vollständige Umgebungsansicht, ohne dass separate Sensoren für visuelle und Tiefendaten benötigt werden. Der AF0131 ist speziell für Anwendungen mit externer Tiefenberechnung konzipiert. Die Evaluierungsboards AF0130CSSM30SMKAH3-GEVK und AGBENECS-GEVK von onsemi, erhältlich bei mouser.com, unterstützen die Entwicklung von Anwendungen auf Basis der AF013x-Sensoren.
